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Mesure et correction de l'uniformité de l'affichage des MicroLED

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Méthodes de mesure de la luminance et de la chromaticité des sous-pixels pour la correction (Demura) et le contrôle de qualité

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Les MicroLEDs continuent de démontrer leurs avantages en termes de performances pour les écrans, inaugurant une nouvelle génération de technologie d'éclairage rétro-éclairé et à vision directe. Ces éléments émissifs inorganiques offrent de nombreux avantages par rapport aux autres technologies d'affichage, notamment une luminosité et un contraste élevés, une large gamme de couleurs, une longue durée de vie et une haute densité de pixels. Toutefois, les défis liés à la fabrication de panneaux microLED de haute qualité doivent être relevés avant de pouvoir réaliser une production et une commercialisation de masse viables

En tant qu'éléments émissifs individuels, les microLEDs présentent généralement des variations de luminance et de couleur au niveau du pixel. Ces variations exigent que chaque microLED soit mesurée et ajustée individuellement pour assurer l'uniformité visuelle sur l'ensemble de l'écran. Ainsi, un système de mesure et de correction pour la fabrication de microLED doit être capable de quantifier avec précision la sortie de chaque élément émissif (la LED individuelle ou le sous-pixel), avec des temps de cycle très courts pour corriger la grande quantité d'émetteurs dans un seul affichage et pour prendre en charge les processus de production de masse à faible taux de déchets