{{{sourceTextContent.title}}}

Découvrez la tête de balayage NX-Tip de Park - Système automatisé de microscopie à force atomique (AFM) pour mesurer les écrans plats ultra grands et lourds à l'échelle nanométrique

{{{sourceTextContent.subTitle}}}

Système AFM automatisé pour les écrans plats ultra grands et lourds

{{{sourceTextContent.description}}}

Pour répondre à la demande croissante de métrologie AFM sur des écrans plats de plus grande taille, Park Systems a lancé la tête de balayage NX-Tip, qui permet de relever les défis de la nanométrologie pour les échantillons de plus de 300 mm et d'un poids supérieur à 1 kg. La tête de balayage à pointe (TSH) est une tête à pointe mobile conçue spécifiquement pour les mesures et analyses AFM automatisées sur de grands échantillons tels que les écrans OLED et LCD