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Les avantages de l'AFM sous vide poussé pour les mesures électriques des matériaux #2D

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Microscopie électrique à sonde à balayage

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Dans cette appnote, les chercheurs de l'imec illustrent les avantages du vide poussé pour les mesures électriques en utilisant les capacités de l'AFM Park NX-Hivac. Ils utilisent le #SPM conducteur (CAFM et STM) pour étudier les propriétés électriques du MoS2, à la fois dans des conditions ambiantes et sous vide poussé (#HV). Malgré la présence d'une couche d'oxyde, un signal de courant clair, homogène et plus élevé a été mesuré en condition de HV. Les résultats soulignent l'importance de l'analyse multidirectionnelle et multicanaux sur les matériaux 2D, y compris les dichalcogénures de métaux de transition (TMD) qui présentent un grand intérêt pour l'industrie des semi-conducteurs.