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Émission à froid ou effet Schottky : comment choisir la source d'électrons adaptée à votre MEB ?

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Le choix d'une source d'électrons adaptée à votre microscope électronique à balayage (MEB) est essentiel pour garantir des performances optimales dans votre laboratoire.

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Pour ceux qui évaluent les microscopes électroniques à balayage à émission de champ, le choix se résume souvent à des sources à émission de champ à froid (CFE) et à des sources de type Schottky. Toutes deux offrent des avancées significatives par rapport aux anciennes sources thermo-ioniques, mais chacune présente des avantages distincts.

Les sources CFE se distinguent par la qualité de leur faisceau, offrant un large spectre d’énergie étroit et une luminosité élevée, ce qui les rend idéales pour l’imagerie à ultra-haute résolution et à basse tension de surfaces délicates et de matériaux à l’échelle nanométrique. Elles nécessitent toutefois davantage d’entretien et sont sensibles aux conditions environnementales.

En revanche, les sources de type Schottky offrent une stabilité supérieure et sont moins sensibles aux facteurs environnementaux. Elles sont particulièrement adaptées aux flux de travail analytiques longs et réguliers, tels que la cartographie EDS et l’EBSD, ce qui en fait un choix plus approprié pour les laboratoires multi-utilisateurs et les installations privilégiant le débit et la facilité d’utilisation.

En définitive, votre choix doit correspondre aux besoins spécifiques de votre laboratoire, qu’il s’agisse d’atteindre la résolution la plus élevée ou de garantir stabilité et répétabilité.

Pour en savoir plus, suivez ce lien : https://hte.hitachi-hightech.com/blog/cold-field-emission-vs-schottky