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Révolutionner les essais de combustion

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La solution sans four et économe en énergie de Microtest

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Dans l'écosystème des semi-conducteurs, le processus de déverminage est l'une des procédures les plus délicates et les plus sensibles, car il contribue à prévenir les défauts inhérents, communément reconnus dans l'électronique et décrits par la courbe dite "en baignoire". Cette courbe illustre le taux de défauts tout au long du cycle de vie d'un composant. Compte tenu de l'occurrence naturelle de la mortalité infantile des composants, la procédure de test de déverminage vise à identifier les composants qui présentent une défaillance précoce et qui doivent donc être interceptés et mis au rebut. Si ces composants défectueux sont mis sur le marché, ils risquent de provoquer de graves dysfonctionnements et d'endommager des personnes ou des biens.
Le système Burn-In développé par Microtest est révolutionnaire parce qu'il est sans four, introduisant une innovation perturbatrice et des améliorations significatives par rapport aux systèmes traditionnels utilisés pour les microcontrôleurs.