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LE GROUPE MICROTEST SIMPLIFIE LES TESTS DE SEMI-CONDUCTEURS WBG POUR LES LABORATOIRES ET LES INGENIEURS : INTRODUCTION DES QUASAR200 ET PULSAR600 PLUG-AND-PLAY

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Le groupe Microtest lance Quasar200 et Pulsar600 pour soutenir la recherche sur les semi-conducteurs à large bande passante (WBG) et le développement de nouveaux produits, en particulier dans l'industrie automobile. Les plates-formes sont conçues dans les laboratoires de sa filiale britannique, Microtest Group

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Le groupe Microtest lance Quasar200 et Pulsar600 pour soutenir la recherche sur les semi-conducteurs à large bande passante (WBG) et le développement de nouveaux produits, en particulier dans l'industrie automobile. Les plates-formes sont conçues dans les laboratoires de sa filiale britannique, ipTEST.

Guildford, Royaume-Uni, 16 octobre 2025 - Le groupe Microtest, premier fabricant européen de systèmes de test et d'essais de puces sur boîtier et de plaquettes de silicium, annonce le lancement de deux plates-formes clés en main pour la caractérisation des dispositifs de puissance : Quasar200 et Pulsar600. Ces systèmes marquent une avancée significative dans la recherche sur les semi-conducteurs et le développement de produits du WBG, en particulier dans le secteur automobile.

Développées par ipTEST, filiale britannique de Microtest et leader mondial des systèmes de test de semi-conducteurs de puissance à haut volume, les deux plateformes établissent une nouvelle référence en matière de tests de précision. Elles évaluent la capacité des dispositifs à gérer des courants et des tensions élevés de manière sûre et efficace.

Quasar200 et Pulsar600 sont conçus pour deux communautés clés du secteur : les chercheurs universitaires et les ingénieurs qui développent de nouveaux produits semi-conducteurs. Grâce à leur approche "plug-and-play", ils simplifient les flux de travail expérimentaux en éliminant le besoin d'équipement personnalisé et en réduisant les opérations manuelles telles que les soudures et les configurations de test complexes. Les utilisateurs peuvent ainsi obtenir des résultats précis, prêts à être publiés, avec une précision traçable. Leur fiabilité accélère la production de fiches techniques, facilite la corrélation avec les testeurs de production et garantit une validation sûre des dispositifs de nouvelle génération.

Le Quasar200 est adapté à l'évaluation des composants Si (silicium), GaN (nitrure de gallium) et SiC (carbure de silicium). Il fournit des mesures DC/AC rapides et précises avec une inductance parasite minimale. Son homologue, le Pulsar600, étend ces capacités aux applications à courant ultra-élevé, idéales pour tester les onduleurs SiC et les systèmes automobiles, en prenant en charge les tests de court-circuit jusqu'à 1 000 A DC et 10 000 A+ AC.

Les deux plates-formes offrent une précision de mesure allant jusqu'à ±0,1 % pour toutes les formes d'ondes de tension et de courant, avec une inductance parasite typique inférieure à 30 nH pour les essais en courant alternatif. L'étalonnage traçable UKAS (United Kingdom Accreditation Service) et les journaux d'audit complets garantissent la fiabilité, la cohérence et la conformité des bancs de laboratoire aux lignes de production.

"Nous sommes fiers de présenter le Quasar200 et le Pulsar600 comme de nouveaux points de référence pour la caractérisation des dispositifs de puissance", a déclaré Nick Dajda, directeur des ventes et du marketing chez ipTEST. "Ces systèmes offrent la vitesse, la précision et la reproductibilité nécessaires pour obtenir rapidement des résultats éprouvés, qu'il s'agisse de développer la prochaine génération de dispositifs de puissance en laboratoire ou de créer des fiches techniques pour de nouveaux produits de puissance."

Du point de vue de la sécurité, la technologie SocketSafe™ d'ipTEST et un environnement de test entièrement fermé avec accès verrouillé protègent à la fois les opérateurs et le matériel - ce qui est crucial lors des tests sous forte contrainte ou destructifs. Cela permet de protéger les investissements, de maximiser le temps de fonctionnement et de garantir la tranquillité d'esprit lorsque l'on pousse les appareils à leurs limites de performance.

Enfin, les prises de test à faible inductance - des connecteurs conçus pour minimiser l'inductance et éviter les interférences avec les mesures critiques - et une conception modulaire facilitent l'évaluation et la configuration d'échantillons conditionnés ou non, rationalisant ainsi l'installation et réduisant la complexité.

De plus amples informations sur ce produit sont disponibles sur le lien suivant : Quasar200 et Pulsar600.