{{{sourceTextContent.title}}}

Webinaire gratuit sur l'analyse des défaillances, les plaintes des clients et le dépannage

{{{sourceTextContent.subTitle}}}

µ-FTIR dans l'analyse des défaillances et le dépannage - LUMOS II : questions et réponses en direct

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Bruker vous invite à rejoindre notre spécialiste des applications, Eric Klein, dans son laboratoire de démonstration, alors qu'il analyse et explique deux échantillons typiques de l'analyse des défauts et des défaillances. Le premier échantillon est une plainte typique d'un client qui a été renvoyé en raison d'un contaminant inconnu à la surface du produit. Le second échantillon est un piège à particules standard, qui a été utilisé pour comprendre les voies de contamination et empêcher la réapparition des contaminations par particules. Inscrivez-vous maintenant !