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Webinar GRATUIT : Contrôle de qualité du silicium à haute sensibilité par spectroscopie FT-IR

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Inscrivez-vous dès maintenant au webinaire en deux parties : Partie 1 - 14 et 15 juin, Partie 2 - 21 et 22 juin !

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Pour le contrôle de qualité des semi-conducteurs, entre autres techniques, la spectroscopie FT-IR s'impose comme un outil simple et efficace. Bruker propose un large portefeuille de produits pour aider à innover dans le développement et le contrôle des processus.

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