Comment effectuer un test de vieillissement pour un laser de haute puissance ?

NOUVELLES PRÉCISES

D'un point de vue structurel, les lasers à semi-conducteurs de haute puissance sont principalement divisés en deux structures : le tube unique et la barre. La structure à tube unique adopte principalement la conception d'une barre large et d'une grande cavité optique, et augmente la zone de gain pour atteindre une puissance de sortie élevée et réduire la catastrophe de la surface de la cavité. La structure à barre est un réseau linéaire parallèle de plusieurs lasers à tube unique, plusieurs lasers fonctionnent en même temps, puis une sortie laser de grande puissance est obtenue par la combinaison de faisceaux et d'autres moyens. Du point de vue des types d'emballage, il existe deux types d'emballage pour les lasers à semi-conducteurs : l'emballage à coque protectrice et l'emballage à puce. L'emballage de la coque protectrice comprend principalement l'emballage à montage en T et l'emballage papillon, etc. L'emballage de la puce comprend principalement l'emballage de type F-Mount, l'emballage de type C-Mount, etc. Bien que les lasers à semi-conducteurs de haute puissance soient largement utilisés, en raison de la puissance lumineuse élevée d'une seule puce, la chaleur générée par unité de surface est importante. Si la technologie de dissipation de la chaleur n'est pas bien conçue, la durée de vie et la fiabilité des lasers à semi-conducteurs seront directement affectées.

C'est pourquoi les lasers à semi-conducteurs de haute puissance doivent être testés en termes de durée de vie et de fiabilité dans des conditions extrêmes, telles que des températures et des courants élevés, avant de quitter l'usine. Mais nous sommes généralement confrontés à certains problèmes lors des tests :

1. Pendant le test LlV, les paramètres photoélectriques sont fortement affectés par la chaleur

2. Les résultats des tests en courant continu et en impulsion large sont imprécis

3. Les lasers à haute puissance ont une mauvaise résistance aux surtensions

4. Les fluctuations de l'alimentation électrique affectent la durée de vie du laser

Alors, comment le tester correctement ?

Solution de test de vieillissement des lasers à diodes de forte puissance

Pour les lasers à semi-conducteurs de haute puissance de l'ordre du kilowatt, PRECISE a lancé un système de test de vieillissement des lasers de haute puissance avec d'excellentes performances en termes de coûts. L'équipement peut être étendu à une structure à 4 couches, et chaque couche est conçue avec plusieurs canaux. Chaque canal prend en charge le vieillissement en série de 1 à 16 puces laser.

Système de test de vieillissement des lasers haute puissance de la série LDI

Le système comprend un dispositif de contrôle de l'environnement à haute température, une alimentation à courant continu ou à impulsion, un dispositif de réception de la lumière, une fibre optique, un spectromètre (en option), un système de refroidissement par circulation d'eau, un dispositif personnalisé, un collecteur de température et un ordinateur hôte, etc. Parmi ceux-ci, l'alimentation est nouvellement développée et conçue de manière indépendante par PRECISE HCPL series high power laser test power supply. mode CW 60A, mode QCW 600A