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PRECISE Instrument - une nouvelle génération de solution de test I-V pour dispositifs semi-conducteurs à grande vitesse
Recherche sans fin
Avec le développement rapide et l'application innovante de nouveaux matériaux semi-conducteurs III-V, comment réaliser facilement une mesure ultra-rapide des caractéristiques du nitrure de gallium (GaN), de l'arséniure de gallium (GaAs) et d'autres semi-conducteurs composés comme la mesure CC Source I-V et opération de mesure ? Comment puis-je empêcher l'auto-échauffement de l'appareil en utilisant des impulsions étroites et/ou des impulsions à faible rapport cyclique au lieu de signaux CC ? Comment répondre aux exigences des applications qui nécessitent à la fois une sortie de tension ultra-rapide et une mesure de courant haute sensibilité simultanée ?
La réponse donnée par la solution de test I-V de dispositif haute vitesse à semi-conducteurs de niveau ns lancée par PRECISE Instruments est : entièrement satisfait !
Conception de carte enfichable + 1CH/carte enfichable + jusqu'à 10 canaux, source de tension constante d'impulsion de nouvelle génération d'instrument PRECISE série CP5xx
