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PRECISE Instrument a présenté la solution de test des paramètres statiques des dispositifs de puissance au China Optics Valley Jiufengshan Forum
Wang Cheng, directeur général adjoint de la société, a prononcé un discours.
L'essor rapide des nouveaux matériaux semi-conducteurs représentés par les semi-conducteurs composés aura un impact crucial sur la refonte de la structure internationale de l'industrie des semi-conducteurs au cours des 10 prochaines années. Afin de se concentrer davantage sur les derniers développements dans les technologies et les applications des semi-conducteurs composés telles que l'optoélectronique internationale des semi-conducteurs, les lasers à semi-conducteurs et les dispositifs à semi-conducteurs de puissance, et de promouvoir le développement complet et complet de l'industrie des semi-conducteurs composés. Du 19 au 21 avril, le premier Forum Jiufengshan de China Optics Valley et la conférence sur le développement de l'industrie des semi-conducteurs composés se sont tenus à Wuhan. Avec le soutien des gouvernements provinciaux du Hubei et de la municipalité de Wuhan, le forum est co-organisé par le comité de gestion de la zone de développement des nouvelles technologies de Wuhan East Lake, la Third Generation Semiconductor Industry Technology Innovation Strategic Alliance (CASA), Jiufengshan Laboratory et Optics Valley. Alliance de la plate-forme d'innovation de circuits intégrés.
Le thème de ce forum est "gravir des sommets, rassembler la sagesse et inspirer l'avenir". Cela durera trois jours. Grâce à la réunion d'ouverture, à des forums parallèles sur 5 thèmes majeurs et à plus de 70 partages de rapports thématiques de session, plus de 500 représentants d'entreprises sont invités à discuter des semi-conducteurs composés. Nouvelles tendances du développement industriel, nouvelles opportunités dans l'industrie et nouvelles technologies de pointe.
Au cours de la période, en tant que fournisseur leader d'équipements de communication optique et de test de semi-conducteurs en Chine, Wuhan PRECISE a apporté des compteurs de source d'impulsions pour les tests de dispositifs d'alimentation, des alimentations à impulsions à courant élevé 1000A (plusieurs unités connectées en parallèle à 6000A), 3.5kV haute- des unités de test de source de tension (extensibles à 10 KV) et la machine de test de plaquettes Lidar VCSEL de 100 ns sont apparues lors de la conférence. Wang Cheng, directeur général adjoint de la société, a été invité à partager le thème "Explorer les facteurs d'influence du test des paramètres statiques des dispositifs de puissance".
