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Défis pour les prises de test fonctionnant à des taux de données de 224 Gbps

Au cours de ce webinaire, nous aborderons les défis liés à la conception et à la fabrication d'une interface électromécanique pour tester un circuit intégré fonctionnant à des débits de données de 224 Gbps. Nous évoquerons les obstacles au travail dans un environnement entièrement simulé et nos produits capables de répondre aux exigences de la prochaine génération de circuits intégrés. Dans l'ensemble, le déploiement d'une infrastructure matérielle optimisée combinant des systèmes de calcul à haute performance, des accélérateurs d'IA spécialisés, des interconnexions efficaces, des solutions de stockage et des cadres logiciels est essentiel pour réaliser le plein potentiel des puces d'IA de la prochaine génération.