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Les équipements de test de fiabilité des semi-conducteurs SANWOOD au salon SEMICON Europa 2026

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Venez rendre visite à SANWOOD au hall C2, stand 130, lors du salon SEMICON Europa 2026 à Munich pour discuter du burn-in des mémoires, de la caractérisation thermique des circuits intégrés et des tests HAST pour la qualification des boîtiers de semi-conducteurs.

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Le salon SEMICON Europa 2026 se tient actuellement au Messe München à Munich, en Allemagne, du 10 au 13 novembre 2026. SANWOOD rencontre des ingénieurs en fiabilité, des responsables de laboratoire et des acheteurs d’équipements au hall C2, stand 130 (C2/130), afin de discuter des tests de fiabilité des semi-conducteurs. L'équipe se tient à votre disposition pour examiner les configurations de test relatives au burn-in des mémoires sous tension, aux essais de température localisés des circuits intégrés et à l'exposition accélérée à l'humidité des boîtiers de semi-conducteurs.

Le salon rassemble les équipes chargées de la conception des puces, de la fabrication des plaquettes, du conditionnement et des tests. La conférence « Advanced Packaging » aborde les architectures « chiplet », l’intégration avancée et les développements en matière de conditionnement et de test, tandis que le « Fab Management Forum » traite des stratégies de fabrication et de l’automatisation. Sur le stand SANWOOD, la discussion s’articule autour du dispositif ou de l’assemblage à tester, des conditions que l’équipement doit fournir et des mesures que le laboratoire doit effectuer.

Burn-in de mémoire avec des cartes sous tension
Le burn-in de mémoire permet de détecter les défaillances précoces en faisant fonctionner les composants dans des conditions de contrainte définies. Lorsque plusieurs cartes de burn-in équipées fonctionnent simultanément, l’espacement entre les cartes et la chaleur générée par les composants sous tension peuvent affecter la circulation de l’air et les températures au niveau de la charge. Ces détails sont importants lorsque le laboratoire planifie le nombre de cartes à tester par lot et les points de mesure de la température.
Pour discuter du système de test de rodage de mémoire BIB de SANWOOD, veuillez indiquer le nombre de cartes prévu, leur agencement et la charge thermique attendue si elle est connue. Ces informations permettent de définir la configuration de charge à comparer au profil de test.

Contrôle localisé de la température pour la caractérisation des circuits intégrés
Le système de forçage thermique SANWOOD dirige de l’air chaud ou froid vers un composant ou une zone de test sélectionnés, tandis que le dispositif reste connecté à sa carte de test. Le système peut contrôler la température de l’air fourni ou utiliser les données de rétroaction provenant du dispositif sous test, selon la procédure.
Pour un test spécifiant la température de surface du boîtier, le laboratoire doit définir l’emplacement du capteur et le moment où effectuer les mesures électriques. L’air fourni peut atteindre sa consigne avant que le boîtier n’atteigne la température requise. Un schéma de la carte ou du dispositif de fixation permet d’identifier l’emplacement de fixation du capteur et les connexions électriques qui doivent rester accessibles.

Essai HAST pour la qualification des boîtiers de semi-conducteurs
Une chambre d’essai HAST SANWOOD offre un environnement sous pression, à température et humidité élevées, permettant d’évaluer la fiabilité liée à l’humidité des boîtiers de semi-conducteurs non hermétiques. La méthode d’essai choisie définit les conditions d’exposition, précise si une polarisation électrique est appliquée et indique à quel moment les mesures électriques sont requises.
Pour un test HAST avec polarisation, veuillez fournir le schéma prévu du dispositif de fixation ainsi que les spécifications de polarisation. La disposition des échantillons, le câblage et les exigences relatives aux traversées de la chambre constituent des points de départ pratiques pour examiner la configuration de la chambre.

Rencontrez SANWOOD au stand C2/130
Rendez-vous dans le hall C2, stand 130, pour discuter de votre projet de tests de fiabilité des semi-conducteurs. Un projet de profil de test, un schéma de carte ou un croquis de montage suffisent pour entamer la discussion. Pour toute demande en dehors du salon, contactez [email protected].