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Technologie SANWOOD : Créer des solutions de test de fiabilité pour le secteur des semi-conducteurs

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SANWOOD Technology s'engage à fournir un support d'essai efficace et fiable aux clients du secteur des semi-conducteurs, afin d'améliorer les performances des produits et la certification de la sécurité.

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Alors que l'industrie des semi-conducteurs entre de plus en plus rapidement dans l'ère des processus 2nm, des emballages avancés et des puces IA, la fiabilité et la stabilité des produits sont confrontées à des défis sans précédent. La précision de fabrication de la lithographie ultraviolette extrême, la structure complexe de l'emballage des circuits intégrés en 3D et l'environnement d'exploitation difficile de la mémoire à grande largeur de bande exigent que les dispositifs à semi-conducteurs maintiennent des performances stables sous de multiples facteurs, notamment des températures extrêmes, l'humidité et les vibrations.
En tant qu'entreprise professionnelle dans le domaine des équipements de test environnemental, SANWOOD Technology aide les entreprises de semi-conducteurs à accélérer la détection des défauts potentiels grâce à sa technologie de simulation environnementale de haute précision, offrant ainsi une garantie importante pour la stabilité à long terme des puces.

Puce de circuit intégré (IC)
Les puces à circuit intégré sont largement utilisées dans les processeurs, les mémoires, les dispositifs logiques, etc. Leur fiabilité influe directement sur la stabilité des équipements électroniques.
Élément de test :
Test de stockage à haute et basse température : évaluation de la stabilité de la puce à des températures extrêmes, normes de test JESD22-A101, GB/T 2423.1/2.
Test de cycle de température : Simule le stress thermique de la température diurne ou de la mise en marche et de l'arrêt de l'équipement, norme d'essai JESD22-A104.
Test de chaleur humide : Évaluer la résistance à la corrosion de la puce dans un environnement très humide, norme d'essai GB/T 2423.3.

Semi-conducteurs de puissance (IGBT, MOSFET, etc.)
Les semi-conducteurs de puissance sont largement utilisés dans les véhicules à énergie nouvelle et les onduleurs photovoltaïques, qui doivent résister à une tension et à un courant élevés ainsi qu'à des variations de température.
Éléments de test :
Test de biais à haute température et à haute humidité : évaluation accélérée des modes de défaillance dans les environnements humides, norme de test JESD22-a110, IEC 60749.

Dispositifs optoélectroniques (LED, diode laser, etc.)
Les dispositifs optoélectroniques sont sensibles à la température, et une température élevée peut entraîner un décalage de la longueur d'onde ou une atténuation de la lumière.
Éléments d'essai :
Essai de vieillissement à haute température : évaluation des propriétés d'atténuation de la lumière, norme d'essai CEI 62047
Essai de choc thermique et de froid : simulation d'un changement soudain de la température extérieure, norme d'essai JESD22-a106
Essai au brouillard salin : évaluation de la résistance à la corrosion dans un environnement côtier ou industriel, norme d'essai GB/t 2423.17

Recommandation concernant l'équipement
Chambre d'essai à changement rapide de température
Plage de température : -70 ℃~+150 ℃ (possibilité de personnalisation non standard)
Fluctuation de la température : ≤± 0,5 ℃ (au ralenti et à l'état constant)
Écart de température : ≤± 2 ℃ (au ralenti et à l'état constant)
Dépistage des contraintes Taux de variation de la température : 5 ℃/Min, 10 ℃/Min, 15 ℃/Min, 20 ℃/Min, 25 ℃/Min
Technologie avancée d'équilibre du froid à plusieurs étages empilés, technologie de contrôle du flux de réfrigérant réalisant efficacement une économie d'énergie de plus de 30.

Chambre d'essai de vieillissement accéléré à haute pression HAST
Plage de température : +105℃~+133℃.
Plage de contrôle de la pression : 0,5~2,3kg/cm2(0,05~0,23Mpa)
Plage d'humidité : 65%~100%R.H
Les conditions de test HAST sont 130℃, 85%RH, 230Kpa pression atmosphérique, 96 heures de temps de test.

Chambre d'essai de choc thermique :
Température : -65℃~+150℃
Récupération de la température : 5min
Temps de commutation : ≤10s
Interface de sortie R232, R485, pour réaliser une surveillance et un contrôle à distance multiples
Le temps de commutation du panier est inférieur à 10 secondes, le temps de récupération de la température est inférieur à 5 minutes.

La fiabilité des produits semi-conducteurs affecte directement les performances et la durée de vie des appareils finaux, et les chambres d'essais environnementaux sont un outil essentiel pour garantir leur qualité. En respectant les normes internationales et nationales, les entreprises peuvent systématiquement vérifier l'adaptabilité environnementale des produits et améliorer la compétitivité du marché.

Grâce à sa capacité de simulation environnementale précise et à son système de service d'essai parfait, SANWOOD Technology s'engage à fournir un support d'essai efficace et fiable aux clients du secteur des semi-conducteurs, en les aidant à améliorer les performances de leurs produits et la certification de leur sécurité. Pour des solutions de test plus professionnelles, veuillez contacter SANWOOD Technology, nous personnaliserons des services professionnels pour vous.