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IDT abaisse le coût de l'essai en adoptant le système d'essai de semi-conducteur de Ni

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Suivre des exigences de marche sans interruption croissantes d'essai dans un environnement rapide d'où l'exécution de dispositif pousse constamment les limites A MANGÉ des possibilités de système et des coûts de accélération de ce fait d'essai d'obsolescence et d'entraînement d'appareil de contrôle plus haut.

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Utilisant l'architecture ouverte de PXI du système d'essai de semi-conducteur de Ni (STS) pour réaliser la flexibilité que nous avons eue besoin et la capacité de modifier et élever nos plates-formes d'essai parallèlement à nos besoins d'exécution en hausse comme la construction sur notre investissement original plutôt que le jettent comme avec traditionnel A MANGÉ les systèmes, qui exigent généralement des remises à zéro coûteuses importantes du plancher d'essai pendant que les générations des systèmes d'essai avancent.

Comme exécution d'IDT ? les dispositifs de s augmente, il devient plus difficile de maintenir le pas dans l'environnement d'essai de production. Traditionnel A MANGÉ des systèmes capables de répondre à nos exigences à rendement élevé de mesure sont chers et souvent incluent les possibilités supplémentaires qui ne sont pas employées mais s'ajoutent au coût. En plus, dans le traditionnel A MANGÉ l'environnement, améliorant un appareil de contrôle pour améliorer son exécution exige souvent l'évolution à la plate-forme de la deuxième génération d'essai et retirer du service la plate-forme courante. C'est cher et inutile parce qu'une grande partie de l'investissement de technologie réalisé pendant les générations précédentes peut être perdue.

Pour combattre ceci, nous machinons typiquement nos propres solutions sur notre base installée des systèmes d'essai. Après en utilisant de divers modèles presque de chaque A MANGÉ le fournisseur, nous sommes devenus compétents dans prolonger la durée utile de ces derniers AVONS MANGÉ des plates-formes tout en commandant des coûts et renforçant notre potentiel de mesure.

Évolution d'essai

L'évolution de l'essai dans l'unité d'entreprise de synchronisation à IDT est l'exemple parfait de cette approche. Nous avons commencé par un disponible immédiatement, haut-dollar AVONS MANGÉ le système. Bientôt nous nous sommes rendus compte que cette approche était trop chère, ainsi nous avons établi nos propres systèmes d'essai internes. Ces systèmes du cru ont répondu à nos exigences à rendement élevé mais ont sacrifié certains des avantages d'utiliser une plate-forme commerciale telle que le parallélisme élevé et l'appui externe. Nous avons donc émigré à un hybride de ces deux approches et avons combiné un film publicitaire peu coûteux AVONS MANGÉ le système avec notre propre système de perfectionnement d'exécution (voir le schéma 1).

Cette méthodologie a fonctionné bien, mais nous avons par la suite fait face à l'obsolescence de matériel que requis remplaçant le notre choisi A MANGÉE et, en conséquence, une conception de système. Deuxièmement, bien que notre approche hybride ait été réussie d'une perspective de technologie et d'exécution, ce n'était pas toujours production amicale. Généralement en tant que technologie originale les perfectionnements obtiennent ? boulonné ? sur il A MANGÉ des systèmes, les systèmes deviennent plus difficiles soutenir à la fabrication à fort débit. Ajoutant des câbles, le matériel, et parfois le dispositif sous des panneaux d'essai avec l'électronique exagérée à ONT MANGÉ des augmentations de systèmes que le potentiel pour l'échec possible se dirige dans les environnements de fabrication à fort débit.

La solution la plus idéale est de créer ou trouver une plate-forme d'essai avec une architecture ouverte qui permet à des utilisateurs de construire sur leurs investissements de l'appareil de contrôle plutôt que par des perfectionnements ou des réinvestissements de Bolton en grand fer de haut-dollar A MANGÉ. Nous avons eu besoin d'une architecture qui était résistante à l'obsolescence de matériel et pourrait être réinventée comme technologie améliorée. Le Ni STS a fourni cette architecture.

Le Ni STS ? la plate-forme de s PXI est parfaitement adaptée pour résoudre ces problèmes. Le châssis multiple des offres PXI de système à l'intérieur d'une unité centrale d'appareil de contrôle pour offrir des possibilités d'expansion ainsi à l'intérieur de l'utilisateur peut ajouter les dispositifs augmentés d'essai dans l'appareil de contrôle lui-même. Le standard ouvert de PXI donne à des utilisateurs la flexibilité de choisir des instruments à partir d'une série de fournisseurs basés sur leurs besoins au lieu de des choix limités d'un simple A MANGÉ le fournisseur de matériel.

Le Ni STS fonctionne bien pour IDT comme prolongation normale de notre évolution d'appareil de contrôle. Avec lui, nous pouvons continuer à établir les plates-formes à rendement élevé et peu coûteuses d'essai utilisant seulement les modules et les composants que nous devons atteindre nos cibles d'exécution. L'architecture ouverte du Ni STS facilite ceci encore.

Pendant la dernière année du déploiement de Ni STS à IDT, nous avons déjà augmenté les systèmes de leur configuration originale pour répondre à nos besoins en évolution d'essai. Par la planification soigneuse pendant la phase de démarrage, nous nous sommes assurés qu'en dépit de ces perfectionnements, ces systèmes ont maintenu 100 pour cent de compatibilité ascendante avec les solutions initiales de cible. Tout notre investissement initial a été préservé pendant que nous augmentions les appareils de contrôle pour permettre une plus large base d'utilisation dans tout IDT.

Les avantages

Nous avons tiré profit de beaucoup d'avantages à employer des solutions de Ni. D'abord, à la différence de notre approche hybride précédente, nous pourrions consolider la tête d'essai, qui a réduit le nombre de points d'échec potentiel dans la fabrication, le temps de panne pour l'entretien et la réparation, et de surface au sol requise.

Nous avons également augmenté notre capacité d'examiner un éventail de dispositifs avec la même configuration parce que le système a les panneaux interchangeables d'interface, et nous pouvons employer la même configuration d'appareil de contrôle pour différents types de dispositif. Le système multisite tient compte d'une sortie plus élevée d'essai parce que c'est un véritable système d'essai parallèle avec les paramètres d'optimisation du traitement de grande précision pour l'optimisation de matériel.

Pour finir, cette solution était inférieure en coût comparé aux solutions intégrées par alternative parce que nous avons dû établir seulement un ensemble d'instrumentation et nous avons eu peu de différents systèmes à maintenir.

Élevage à l'avenir

Le Ni STSs installé sur IDT ? course 24/7. de plancher d'essai de production de s. Nous avons éprouvé des réductions de temps d'essai en 10 pour cent à 25 pour cent de gamme, augmentée nos possibilités de mesure et exactitude, et nettoyée notre empreinte de pas sur le plancher d'essai, qui a rendu nos appareils de contrôle beaucoup plus de production amicale. Utilisant le Ni STS, nous avons non seulement augmenté notre exécution d'essai mais avons réduit notre coût global d'essai par le retrait plus ancien, difficile de soutenir et maintenir des systèmes d'essai.

Certains de ces systèmes plus anciens ont eu des conditions chères de puissance et de refroidissement, mais la prise de Ni STSs simplement dans n'importe quelle sortie de 110 V sans les équipements supplémentaires exigés. Les coûts horaires d'essai par unité sur ces systèmes plus anciens étaient autant que deux fois celui du Ni STS. En plus, notre Ni STSs fournissent aux dispositifs à rendement élevé de mesure à travers les emplacements d'essai multiples de véritables possibilités d'essai parallèle pour réduire plus loin le coût de l'essai.

Le Ni STS est une famille extensible d'appareil de contrôle avec des modèles disponibles en utilisant un (T1 de STS), deux (T2 de STS) et quatre (STS T4) châssis internes de PXI. Nous avons conçu notre commencement de Ni STS avec le modèle de T2 avec des mises à niveau et des perfectionnements à l'esprit. La capacité d'élever nos plates-formes d'essai en réponse à nos propres besoins est l'un des arguments de vente les plus forts de ces systèmes.

Précédemment, il était difficile ou impossible de partager des systèmes d'essai à travers les unités d'entreprise internes, mais nous avons maintenant d'autres équipes évaluer notre Ni STS. Ces groupes ? les besoins d'essai sont différents de ceux que nos systèmes sont actuellement configuré pour manipuler, mais avec l'architecture ouverte de la plate-forme de PXI, ces utilisateurs peuvent-ils ajouter des possibilités à la définition système originale d'IDT, qui nous ? le VE déjà prouvé dans la production.

Bien qu'aucun AIT MANGÉ la plate-forme est idéale pour toutes les situations, pour la première fois nous voyons que la possibilité de maintien A MANGÉ la plate-forme qui peut être modifiée et réutilisée à travers les unités d'entreprise multiples par la permutation simple des panneaux d'interface ou des modules internes d'instrumentation.

Avec du Ni STS, nous croyons que nous pouvons définir un ou deux configurations de système et employer ces systèmes sur notre plancher d'essai de production pour satisfaire aux différents besoins de toutes les entreprises dans IDT. Nous avons conçu notre Ni STSs de sorte que nous puissions simplement permuter des panneaux d'interface pour permettre de diverses configurations de matériel au besoin. Cette capacité simplifiera considérablement nos opérations d'essai globales et l'aide entraînent une réduction plus loin tout le coût d'essai.

En conclusion, nous pouvons nous casser à partir du grand fer AVONS MANGÉ des fournisseurs et leurs cycles d'obsolescence de matériel et déterminons la meilleure stratégie d'essai basée sur nos propres besoins globaux. Nos investissements actuels et futurs dans le matériel et le logiciel d'essai sont préservés et réutilisables pour l'avenir.

{{medias[1824].title}}

{{medias[1824].description}}

{{medias[1825].title}}

{{medias[1825].description}}