Microscopie à force de sonde Kelvin (KPFM)

Théorie et application

La microscopie à force de sonde Kelvin (KPFM), également connue sous le nom de microscopie à potentiel de surface, fait partie d'une série de méthodes de caractérisation électrique disponibles dans les microscopes à force atomique. Elle cartographie la différence de potentiel de contact (CPD) entre une surface et le cantilever, contenant des informations sur le potentiel de surface et la fonction de travail. La fonction de travail est définie en physique du solide comme l'énergie nécessaire pour enlever un électron du niveau de Fermi d'un solide vers le vide et est donc une propriété de surface et non liée à la masse.

Cet article décrit le fonctionnement de la KPFM et donne plusieurs exemples de mesures de la KPFM.