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Analyse des données de RAD sur le logiciel HighScore Plus - quoi de neuf

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Webinaire en direct le 28 juillet 2020

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La beauté du travail dans l'équipe de recherche et de développement est de pouvoir se tourner vers l'avenir et d'anticiper des besoins que nos utilisateurs finaux ne soupçonnaient même pas auparavant. Malvern Panalytical est fier d'annoncer la dernière version du logiciel HighScore Plus, la version 4.9. Depuis sa conception, nos développeurs de logiciels ont apporté des améliorations telles que des fonctionnalités automatisées comme la conversion d'images Bitmap, une analyse Rietveld plus rapide et améliorée, un ajustement plus rapide des grands ensembles de données, un accès transparent à la base de données structurelles de Cambridge à partir de la plateforme HighScore et bien plus encore

Ce webinaire est présenté par notre principal développeur de logiciels, le Dr Thomas Deagen, qui est basé dans notre centre d'approvisionnement aux Pays-Bas. Il parlera des fonctionnalités d'automatisation faciles à utiliser avec la dernière version 4.9 de HighScore Plus pour l'analyse par diffraction des rayons X. Par exemple, les lots intelligents, l'apprentissage non supervisé et supervisé. Vous souhaitez en savoir plus ? Faites défiler la page vers le bas pour enregistrer votre intérêt pour notre série de webinaires sur la diffraction des rayons X.

Vous pouvez vous inscrire gratuitement à tous nos webinaires et vous recevrez automatiquement la version à la demande