{{{sourceTextContent.title}}}

Amélioration de la cartographie des phases de recherche pour l'analyse des rayons X

{{{sourceTextContent.subTitle}}}

Webinaire en direct le 11 juin 2020

{{{sourceTextContent.description}}}

La diffraction des rayons X est l'un des outils les plus puissants pour identifier les phases cristallines inconnues. Et il existe diverses bases de données auxquelles les cristallographes peuvent se référer, par exemple l'ICDD. En comparant les positions et les intensités des pics de diffraction à une bibliothèque de matériaux cristallins connus, le matériau cible peut être identifié. Cette action est connue sous le nom de cartographie de recherche de phase. Comme cette méthode de balayage de recherche de phase implique la correspondance mathématique de ces balayages, il est possible que la phase corresponde mathématiquement au motif XRD, mais qu'elle ne soit pas réellement dans l'échantillon

Au cours de ce webinaire, nous discutons de ces erreurs confondantes où des phases incorrectes ont été reconnues. Et surtout, comment de telles erreurs peuvent être minimisées ou éliminées en réduisant la cartographie de recherche par la compréhension de la chimie ou de la composition élémentaire du matériau

Vous pouvez vous inscrire gratuitement à tous nos webinaires et vous recevrez automatiquement la version à la demande