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#Salons et évènements
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Qualité des données de la recherche en rayons X : importance d'une bonne préparation des échantillons
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Webinaire en direct le 4 juin 2020
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La diffraction des rayons X est l'un des outils les plus puissants pour identifier les phases cristallines inconnues. De nombreuses considérations et implications reposent sur les résultats de la diffraction des rayons X recueillis en termes de conception de meilleurs matériaux ou de prise de décisions sur le contrôle de votre processus. Quelles seraient vos conclusions si vous constatez des décalages ou des élargissements de pics dans votre échantillon ? Au cours de notre travail avec de nombreux clients, nous avons remarqué que la majorité des mauvais profils de rayons X est le résultat d'une mauvaise préparation de l'échantillon. Nous attendons avec impatience les conseils pratiques du Dr Daniel Lee, spécialiste principal des applications de la recherche sur les rayons X chez Malvern Panalytical, au cours de ce webinaire.
Au cours de ce webinaire, il partage des conseils relatifs à la taille optimale des particules, à la manière de broyer correctement les échantillons de poudre, au choix du porte-échantillon pour des situations telles que des échantillons de poudre limités, etc. Surveillez notre prochaine série de webinaires sur "De meilleurs résultats et une meilleure interprétation de la qualité des données XRD".
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