Nouveau système de mesure à effet Hall - Linseis L79/HCS

Le nouveau système de mesure à effet Hall de L79/HCS de Linseis permet la caractérisation des dispositifs de semi-conducteur. Les matériaux comprenant SI, SiGe, le sic, GaAs, InGaAs, INP, GaN (le type de N et le type de P peuvent être mesurés), métal pose, des oxydes, peuvent être mesurés facilement. Les mesures de L79/HCS :

- Concentration en porteur

- Resisitivity

- Mobilité

- Conductivité

- Rapport horizontal/vertical d'alpha (de résistance)

- Coefficient de hall

- Megnetoresistance

Les offres de bureau raboteuses d'installation :

- Différents supports témoin pour différentes géométries

- Une basse température facultative (LN2) à la version 250°C

- Une version à hautes températures jusqu'à 700°C

- Mesure dans presque chaque genre d'atmosphère (azote, oxygène, hélium, argon, vide)

- Les différents aimants permanents et électriques fournissent des champs magnétiques fixes ou variables jusqu'aux plusieurs tessla.

- Le logiciel basé sur Windows complet fournit la parcelle de terrain d'IV et d'IR.