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Hitachi High-Tech Analytical Science lance le nouvel analyseur de revêtements XRF FT160

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Le nouvel analyseur XRF FT160 avec trois options de configuration de base pour l'analyse des revêtements à l'échelle nanométrique.

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Suite à l'introduction de la nouvelle série FT160 au Japon, Hitachi High-Tech Analytical Science vend et entretient désormais les analyseurs de revêtements de la série FT160 en Chine, en Amérique du Nord, en Europe, au Moyen-Orient et en Afrique. Cette dernière génération d'analyseurs de revêtements Hitachi a été conçue pour relever les défis de la mesure de revêtements ultra-minces sur de petites caractéristiques. Le FT160 est un analyseur EDXRF (fluorescence X à dispersion d'énergie) de table doté d'un logiciel et d'un matériel puissants créés pour fournir un débit d'échantillons élevé avec des résultats de qualité obtenus par n'importe quel opérateur. Conçue pour jouer un rôle clé dans le contrôle de la qualité de la production, la série FT160 mesure un large éventail d'applications sur les marchés des semi-conducteurs, des cartes de circuits imprimés et des composants électroniques.

Mesurer les revêtements à l'échelle nm

Le FT160 est doté de composants haut de gamme pour fournir l'analyse ultime des revêtements ultra-minces sur des structures fines. Une optique polycapillaire concentre le faisceau de rayons X jusqu'à un diamètre de <20 µm, ce qui permet de concentrer plus d'intensité sur l'échantillon et de mesurer des caractéristiques plus petites que ce qui est possible avec la collimation traditionnelle. Un détecteur de dérive du silicium (SDD) Hitachi High-Tech à haute sensibilité et haute résolution tire pleinement parti de l'optique pour mesurer les revêtements à l'échelle du nm sur la microélectronique et les semi-conducteurs. Une platine de haute précision et une caméra haute définition avec zoom numérique permettent un positionnement rapide des caractéristiques de l'échantillon afin d'améliorer le débit de l'échantillon.

Matt Kreiner, chef de produit chez Hitachi High-Tech Analytical Science, a déclaré : "Le FT160 s'appuie sur le succès de ses prédécesseurs et propose une nouvelle disposition de l'éclairage pour une meilleure visibilité et un meilleur positionnement des pièces, de nouvelles options de configuration pour assurer des performances optimisées pour des applications spécifiques et un nouveau facteur de configuration de base compact pour les laboratoires de test très occupés. L'évolution continue du matériel et des capacités d'analyse de cette gamme de produits permet à nos clients de contrôler plus facilement que jamais la production dans le paysage microélectronique en évolution rapide. Le FT160 complète notre gamme complète d'instruments de revêtement, résultat de plus de 45 ans d'expérience dans le développement d'analyseurs de revêtements XRF"