NOUVEAUTÉ : source lumineuse au xénon by Getamo

Ce capteur pour les analyses en mode de réflexion a été développé pour les applications dans le domaine spectral UV/VIS. Le SentroHead XE200 vous permet de éffectuer vos mesures entre 250 et 850 nm. Grâce à une illumination directe de vos échantillons par la source de lumière intégrée on obtient une intensité très élévée directement sur les échantillons. Cette intensité haute vous permet d’analyser même des objets ayant une réflexion de faible niveau. Avec une grande surface de détection, la cellule SentroHead XE200 est conçue pour réduire la dispersion de la mesure sur les poudres hétérogènes en composition et/ou physiquement (taille, forme, etc...) et permet ainsi d'augmenter la fiabilité des contrôles qualitatifs et quantitatifs.

Lors des mesures de la réflexion diffuse, on souhaite souvent pouvoir reproduire le plus grand spot mesuré possible afin de minimiser les erreurs de mesure provoquées par l'hétérogénéité.

Sept fibres d'illumination venant d'une source intégrée donnent un signal puissant et une fibre de détection transfère les données spectrales au spectromètre. La cellule était conçue robuste et compacte – les câbles pour la mise en courant et les fibres optiques allant au spectromètre sont intégrés dans un tuyau de protection métallisé.

Avantages:

- Source de lumière intégrée

- Tâche de mesure assez large

- Alimentation en courant 12VDC

- Branchement au spectromètre via SMA

- Canal de référence y compris

Applications:

- Mesures sur les surfaces planes (bois, papier, slides, acier)