Le microscope électronique à balayage CIQTEK facilite l'amélioration de la qualité du « super nanorevêtement »

Le microscope électronique à balayage CIQTEK facilite l'amélioration de la qualité du « super nanorevêtement »

Présentation du CIQTEK filament de tungstène Scanning Electron Microscope SEM3200 fournit aux chercheurs des images claires à l’échelle nanométrique, leur permettant d’examiner visuellement la microstructure et la morphologie des couches de revêtement. De plus, le spectromètre à dispersion d'énergie (EDS) permet une analyse précise de la composition des matériaux et de la distribution des éléments, guidant ainsi efficacement l'optimisation des processus de recherche et de développement.