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Démonstration pratique du CIQTEK FIB SEM - Préparation d'échantillons de nanomicropillaires

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Démonstration pratique du CIQTEK FIB SEM - Préparation d'échantillons de nanomicropillaires

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La préparation d'échantillons de nanomicropillaires a été réalisée avec succès, démontrant les puissantes capacités du microscope électronique à balayage à faisceau d'ions focalisé CIQTEK dans le traitement et l'analyse à l'échelle nanométrique. Les performances du produit offrent un support d'essai précis, efficace et multimodal aux clients engagés dans des essais nanomécaniques, facilitant ainsi les percées dans la recherche sur les matériaux.