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#Tendances produits
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L'angström avancé a libéré un nouveau modèle de système multifonctionnel de SPM
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Introductions
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Le microscope de sonde du balayage AA5000 est angström la plupart de modèle innové. AA5000 comporte une couverture totale de SPM TECHNIQUE-MCE, AFM, LFM AFM conducteur, MFM, EFM, contrôle de l'environnement SPM et Nano-Traitement… AA5000 est conçu pour fournir des images de balance atomique jusqu'à 100 micromètres. Avec un processeur de signal numérique (DSP) TMS320C642 à l'intérieur du système, AA5000 peut gérer des tâches multifonctionnelles compliquées efficacement. Un temps réel du système d'exploitation de SPM/DNA est inclus dans le système d'AA5000 SPM.
Dispositifs
Multifonctionnel : AFM, LFM, MCE, AFM conducteur, MFM et EFM ;
À plusieurs modes de fonctionnement : Mode entrant en contact, mode de tapement, formation image de phase et mode de levage ;
SPM peut être dans le liquide ;
Détection en temps réel de la température et d'humidité ;
Analyse de force : IV courbe, courbe d'I-Z, courbe de force et courbe d'amplitude ;
Nano-Traitement et manipulation : Mode de balayage de mode et de vecteur de lithographie ;
Jeûnez incliner-en s'engageant automatiquement
Simplement changement du support de bout au commutateur entre le MCE et l'AFM ;
Pleine commande numérique, identification automatique d'état de fonctionnement du système ;
Allégement réglable à l'intérieur
Avec un processeur de signal numérique À 32 bits (DSP) de Texas Instruments, 4.8 milliards de fois de calcul par seconde peuvent être réalisées ;
Le contrôleur et l'ordinateur se sont reliés par un Ethernet 10M/100M rapide ;
Grande dimension de l'échantillon : jusqu'au diamètre 45mm, 30mm épais ;
Logiciel de gestion en ligne et logiciel à traitement d'images en différé pour Windows ;
Tracer-Retracez le balayage, balayage En arrière-Vers l'avant ;
Image en ligne du temps réel 3D ;
Automatiquement l'éclat et le contraste régénèrent ;
Des données peuvent être chargées dehors pour l'analyse approfondie ;
Fonction de Nano-Film : Collecte, stockage et rejeu de données continues ;
Multi-Analyse : Granularité et rugosité ;
Évaluation de bout et reconstruction d'image ;
Conception modularisée pour la convenance de l'entretien et de la mise à niveau de futur ;
En second lieu écran de visualisation et système optique de microscope connectables ;