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#Tendances produits
{{{sourceTextContent.title}}}
Microscopie avancée, simplifiée
{{{sourceTextContent.subTitle}}}
Olympe a lancé sa nouveaux série de microscope de BX3M et logiciel droits modulaires de micro-formation image du jet 2.1 d'OLYMPE, ensemble sans couture s'adaptant aux besoins de l'utilisateur et augmentant la science des matériaux une série d'et les applications industrielles.
{{{sourceTextContent.description}}}
Hambourg, 09.03.2016 - apportant la flexibilité à une gamme diverse des tâches industrielles d'inspection, la nouvelle série modulaire de BX3M de microscopes droits peut être facilement adaptée aux besoins du client pour satisfaire à n'importe quelle exigence - de cheval de labour rentable à un système à extrémité élevé de recherches. La conception facile à utiliser inclut maintenant des modes avancés d'illumination pour l'analyse détaillée et efficace, et est idéale pour l'usage à côté du nouveau logiciel de micro-formation image du jet 2.1 d'Olympe. Encore d'autres normes opérationnelles de facilitation et tâches d'inspection détaillée, le nouveau logiciel fonctionne sans couture avec le BX3M pour rationaliser le déroulement des opérations complet, de l'observation à travers à la création de mesure, d'analyse et de rapport.
En plus d'un vaste choix des modes traditionnels d'illumination, le BX3M inclut des techniques de formation image innovatrices pour augmenter des tâches industrielles d'inspection, et est particulièrement idéal pour l'analyse d'échec des échantillons complexes. Pour permettre une analyse plus rapide topographique et de défauts, le darkfield directionnel est fait à l'illumination segmentée traversante possible de LED, qui fournit l'illumination flexible de différents angles. Pour des échantillons avec les structures variables telles qu'une carte, l'illumination de MÉLANGE d'Olympe fournit la flexibilité incomparable, pendant que le darkfield directionnel peut être combiné non seulement avec le brightfield, mais également avec la formation image de polarisation et de fluorescence. Ceci permet l'acquisition de couleur, du contraste et de l'information topographique dans une image complète, faisant l'évident invisible et bénéficiant une foule d'applications, de l'analyse des matières composites pour fêler l'inspection des semi-conducteurs. Le changement entre les modes standard d'observation est rapidement réalisé en tournant simplement un cadran, avec des arrangements d'ouverture facilement réglables et un nouveau bloc d'éclairage de LED. Des images peuvent être maintenant également visualisées avec la résolution 4K pour vérifier, partager et documenter les structures les plus fines avec la taille d'image et la qualité exceptionnelles, grâce à la dernière technologie de l'appareil-photo d'Olympe UC90.
Des résultats reproductibles sont garantis chaque fois avec le nouveau logiciel du jet 2.1 d'Olympe, qui inclut une nouvelle fonction « d'arrangement de dispositif de restauration », permettant aux mêmes arrangements d'acquisition d'être repliés rapidement et efficacement, même entre différents utilisateurs. À côté des possibilités automatiques de calibrage, ceci permet l'accomplissement rapide des tâches de garantie et de contrôle de qualité de qualité exigeant des normes opérationnelles, par exemple dans les secteurs des véhicules à moteur et aérospatiaux. Les nouveaux dispositifs tranchants incluent également MIA instantané pour la visualisation à haute résolution de grands échantillons dépassant le champ visuel - où une grande image simple est automatiquement produite tout en simplement déplaçant une étape manuelle.
Avec le jet 2.1 de BX3M et d'Olympe, le matériel et le logiciel intègrent sans couture pour former une plate-forme personnalisable et extensible, utilisateur-optimisée pour livrer un déroulement des opérations rapide et efficace.
Pour plus d'information, visitez svp www.olympus-ims.com